MIL-S-19500A1B(EL)
3.3.3Qoeratinu Dosition的transistorshallbe capableof亲
票面operationin任何位置
I-
3.4执行电子原terieti Q.-晶体管
C
性能
字符
teristicsshall becascspec ;田间表I， II和III于此。 Sxcept
i
其中S ecificallycliff
erentiatedfor respectivetransistor
类型（见
1.3 1.T ，和表I，II ， .SND
三，在此）的性能
需求
inciudi.m ！
characteristics.atiIIKS.nd茶
r
a
F ！条件，
适用equallyto
所有TRSM istortypas海湾？ edhereiii 。
3.5马尔.- Sxcept为otherwi apecif
ae
IED这里，马克@克应
在accordancew ！个规格
MIL -S - 19500 。如果有任何规范，要求还
ments放弃已。
理所当然的，在产品标识
标志应
consistof的“ tclassificationn称号
TYPE
只。在“ Manufactur-
呃的标识*次“ iountryof起源” .osy ，在制造的选项
a
c
r
at
商，是omittedfrem被标记directlyon半导体
DE-
副coveredherein 。
4. QUALIW ASSURANCEPROVISIONS
4.1 Qener 。 -
Bxcept AE
otherwisespecifiedherein的responsibil-
性进行检查， “
generalproceduresfor验收，
分类
检查中，
结束inspectionconditions
结束
methodsof测试shsll是
INON ~~ O， rdsnce
与规格
MIL-S-19500,
质量
，保证
prQvi-
sr.ection 。
- 资质
SND
k.2 ~
QualityConformance
inspectionshall在accordancevith规格
MIL-S-195C@,
质量
Assursnce
的规定，
苏州高新区作为otherwisespecified
harein （见本文4.2.2 ）组A，B ，和C inspectionshall cenaist
.
该考试
SND测试specifiedin布拉斯I，II ， III年底， respec-
疑心，在本文中。 QuslityCenformence
inspectionshsll includeinspection
制备
交货（见本文5.1 ）
.
\\ .2.l ecifiedLTPD
r
E
.-临屋区LTPD specifiedfor一子
基在表1 ，图11，和; 11here ; neha.11
适用于所有的
在测试中，
结合时，在该子组。
4.2.2 Grouu B- GrOUDC .lifatest ssmul
ea.- Samplesthat已
分 B ectedto组， 340 hourlife测试。
可能是“
continuadon “测试
为
1000小时'
责令satisfyGroup 寿命试验的要求。这些
samnl外壳被预先指定，
es
SND
shsll保持subjectedto C组
10CO小时评估
之后便pasgedthe B组， 3h0小时 accep-
tance标准;于此，累计
总failuresfound时
3k0 - hourtest ，并在塔aubsequant
intarvalup 1000小时
这些ssmplesshsll是computedfor 1000 houracceptancecriteria 。
B.2.3米
TES
m.-
Ufl.ess
otherwisespecified ，
C组测试
应。
通过电子邮件 formedon的initiallot和thereafteron很多，每6
u
onths 。 ！见表111在此。 ）的contractorshall ，在整个
该
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