CAT28C17A
16 kb的CMOS并行
EEPROM
描述
该CAT28C17A是一种快速，低功耗， 5 V仅CMOS并行
EEPROM组织为2K ×8位。它需要一个简单的接口
在系统编程。芯片上地址和数据锁存器，自定时
写周期，自动清除和V
CC
上电/掉电写保护
消除附加的定时和保护硬件。数据轮询和
一个RDY / BSY引脚信号的自定时写周期的开始和结束。
此外， CAT28C17A支持硬件写保护。
该CAT28C17A采用安森美半导体的制造
先进的CMOS浮栅技术。它的目的是要忍受
万编程/擦除周期，具有10年的数据保存。该
器件采用JEDEC批准的28引脚DIP和SOIC或
32引脚PLCC封装。
特点
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SOIC28
J，K， W，X后缀
CASE 751BM
快速读取访问次数： 200纳秒
低功耗CMOS功耗：
- 活动：最多25 mA的电流。
- 待机： 100
mA
马克斯。
简单的写操作：
- 片上的地址和数据锁存器
- 自定时写周期，自动清除
快速写周期时间： 10 ms最大
写检测结束：
数据轮询
RDY / BSY引脚
硬件写保护
CMOS和TTL兼容的I / O
万编程/擦除周期
10年的数据保存
商用，工业和汽车温度范围
PDIP28
P，L后缀
CASE 646AE
PLCC32
N，G后缀
CASE 776AK
引脚功能
引脚名称
A
0
A
10
I / O
0
-I / O
7
RDY / BUSY
CE
OE
WE
V
CC
V
SS
NC
功能
地址输入
数据输入/输出
READY / BUSY状态
芯片使能
OUTPUT ENABLE
写使能
5 V电源
地
无连接
订购信息
请参阅包装详细的订购和发货信息
尺寸部分本数据手册的第12页上。
半导体元件工业有限责任公司， 2009年
2009年12月，
第4版
1
出版订单号：
CAT28C17A/D
CAT28C17A
表1.模式选择
模式
读
字节写（我们控制）
字节写（ CE控制）
待机和写禁止
读取和写入禁止
H
X
CE
L
L
L
X
H
WE
H
OE
L
H
H
X
H
I / O
D
OUT
D
IN
D
IN
高-Z
高-Z
动力
活跃
活跃
活跃
待机
活跃
表2.电容
(T
A
= 25 ° C，F = 1.0兆赫，V
CC
= 5 V)
符号
C
I / O
（注1 ）
C
IN
（注1 ）
TEST
输入/输出电容
输入电容
最大
10
6
条件
V
I / O
= 0 V
V
IN
= 0 V
单位
pF
pF
1.该参数，并初步设计或过程的变化会影响该参数后进行测试。
表3.绝对最大额定值
参数
在偏置温度
储存温度
在相对于地面的任何引脚电压（注2 ）
V
CC
相对于地面
包装功率耗散能力（T
A
= 25°C)
引线焊接温度（ 10秒）
输出短路电流（注3 ）
评级
-55到+125
-65到+150
-2.0 V至+ V
CC
+ 2.0 V
2.0
到+7.0
1.0
300
100
单位
°C
°C
V
V
W
°C
mA
强调超过最大额定值可能会损坏设备。最大额定值的压力额定值只。上面的功能操作
推荐工作条件是不是暗示。长时间暴露在高于推荐的工作条件下，会影响
器件的可靠性。
2.最小DC输入电压是
0.5
五，在转换过程中，可能会投入到下冲
2.0
V代表小于20毫微秒周期。最大直流
电压输出引脚为V
CC
+ 0.5V，这可能会过冲至V
CC
+ 2.0V，对于小于20毫微秒周期。
3.输出短路不超过一秒。不超过一个输出短路的时间。
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3
CAT28C17A
表4.可靠性的特点
（注4 ）
符号
N
结束
T
DR
V
ZAP
I
LTH
（注5 ）
参数
耐力
数据保留
ESD敏感性
LATCH -UP
测试方法
MIL - STD-883标准，测试方法1033
MIL - STD-883标准，测试方法1008
MIL - STD-883标准，测试方法3015
JEDEC标准17
民
10,000
10
2,000
100
最大
单位
周期/字节
岁月
V
mA
4.此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
提供5闩锁保护的压力高达100毫安的地址和数据引脚从
1
V到V
CC
+ 1 V.
表5.直流工作特性
(V
CC
= 5 V
±10%,
除非另有规定）。
范围
符号
I
CC
I
CCC
（注6 ）
I
SB
I
SBC
（注7 ）
I
LI
I
LO
V
IH
（注7 ）
V
IL
（注6 ）
V
OH
V
OL
V
WI
参数
V
CC
电流（工作， TTL ）
V
CC
电流（工作， CMOS ）
V
CC
电流（待机， TTL ）
V
CC
电流（待机， CMOS ）
输入漏电流
输出漏电流
高电平输入电压
低电平输入电压
高电平输出电压
低电平输出电压
写禁止电压
I
OH
=
400
mA
I
OL
= 2.1毫安
3.0
测试条件
CE = OE = V
IL
,
F = 1 / T的
RC
分钟，所有的I / O公开赛
CE = OE = V
ILC
,
F = 1 / T的
RC
分钟，所有的I / O公开赛
CE = V
IH
，所有的I / O公开赛
CE = V
IHC
，所有的I / O公开赛
V
IN
= GND到V
CC
V
OUT
= GND到V
CC
,
CE = V
IH
10
10
2
0.3
2.4
0.4
民
典型值
最大
35
25
1
100
10
10
V
CC
+ 0.3
0.8
单位
mA
mA
mA
mA
mA
mA
V
V
V
V
V
6. V
ILC
=
0.3
V到+0.3 V
7. V
IHC
= V
CC
0.3
V到V
CC
+ 0.3 V
表6.交流的特点，读周期
(V
CC
= 5 V
±10%,
除非另有规定）。
28C17A20
符号
t
RC
t
CE
t
AA
t
OE
t
LZ
（注8）
t
OLZ
（注8）
t
HZ
（注8,9）
t
OHZ
（注8,9）
t
OH
（注8）
读周期时间
CE访问时间
地址访问时间
OE访问时间
CE低到有源输出
OE低到输出有效
CE高到输出高阻态
OE高到输出高阻态
从地址变更输出保持
0
0
0
55
55
参数
民
200
200
200
80
最大
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
8.此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
9.输出浮动（高Z ）被定义为状态时的外部数据线是由输出缓冲器不再驱动。
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4
CAT28C17A
2.4 V
输入脉冲电平
0.45 V
2.0 V
0.8 V
参考点
图2.交流测试输入/输出波形
（注10 ）
10.输入上升和下降时间（ 10 ％和90 ％ ）， < 10纳秒。
1.3 V
1N914
3.3 K
设备
下
TEST
OUT
C
L
= 100 pF的
C
L
包括夹具电容
图3.交流测试负载电路（例如）
表7.交流的特点，写周期
(V
CC
= 5 V
±10%,
除非另有规定）。
28C17A20
符号
t
WC
t
AS
t
AH
t
CS
t
CH
t
CW
（注11 ）
t
OES
t
OEH
t
WP
（注11 ）
t
DS
t
DH
t
DL
t
INIT
（注12 ）
t
DB
写周期时间
地址建立时间
地址保持时间
CE建立时间
CE保持时间
CE脉冲时间
OE建立时间
OE保持时间
WE脉冲宽度
数据建立时间
数据保持时间
数据锁存时间
写保护期后电
时间到设备忙
10
100
0
0
150
15
15
150
50
10
50
5
20
80
参数
民
最大
10
单位
ms
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ms
ns
小于20 ns的时间11.写脉冲不会启动写周期。
12，此参数与最初设计或工艺变更影响的参数后进行测试。
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5
