agilent 4075和4076都把高速电容测量单元(cmu)集成到测试头中。这一功能可以在1khz-2mhz频率范围内，对层间/层内氧化物非常快速地进行电容测量，从而改善吞吐量，降低测试成本。

agilent 4075和4076所有的rf、hfcv和超短脉冲式iv测量功能都可以在整个新设计的直接对接接口上使用。这种直接对接的设计可通过自动化的探针卡更换机制，让使用者轻易地控制和变换探针卡，而且这种rf直接对接的方式也不会减少任何的dc针脚。

诸如测量链接库和校准工具等操作简易、采用图形化使用者接口的软件皆支持这些rf、hfcv和脉冲式iv测量功能。

通信应用和高速逻辑应用要求深入检定高速半导体器件的性能。agilent 4075与4076皆支持利用pna进行rf的s参数测试功能，相对于目前市面上使用vna的解决方案，以pna为主的rf解决方案可提供更高的产出速度。

诸如soi或高k等最新的先进技术需要超短的脉冲测试能力，以防止产生有害的热量或电荷敏感效应。然而，生产测试系统的脉冲式测量能力却只限于测量微秒的范围。agilent 4075与4076可提供短至10纳秒的超短脉冲式iv测量能力，能有效地测量soi或高k晶体管等对热或电荷高度敏感组件的特性。

这些测量要求异常精确的电流和电压测量分辨率，而此前只有实验室中才能提供这种分辨率。

低消耗静态电流之线性整流稳压器uldo－aic1190，aic1190提供low drop out、高psrr与低噪声，适用于低寄生电阻的陶瓷电容，并可保证输出电流达1a。

aic1190外部仅需两颗2.2uf陶瓷电容，适用于网通、lcd监视器、pc外围与手持式等相关产品。

其低静态电流与低输出电压使之成为电池供电应用的最佳选择。此外，aic1190卓越的限流与热保护设计，能防止ic在过载时产生高温的情况。

aic1190同时提供多种包装的选择以及enable function等功能，包括sot-223, to-252, to-263, to-220, sop-8。

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